Non-Destructive Beam Profile測定の為のＶＸＩによるdata takingと表示システム



                                     高エネルギー物理学研究所  ○門倉英一、川久保忠通、石田忠治



  Non-Destructive Beam Profile Monitorは、シンクロトロンの周回ビームが、真空リングのなかで残留ガスに衝突し、ある確率

で正イオンと電子のペアーを作るので、この正イオンを電気的に集め、電気信号に変え、測定するモニタである。このモニタによっ

て、周回ビームに何の影響を与える事なく、ビームプロファイルの観測ができる。現在、モニタは、ブースターリングに水平方向１

台、垂直方向１台、メインリングに水平方向２台、垂直方向１台挿入しており、これらからの信号をＶＸＩモジュールを基本構成と

した計測システムで取り込み、計算機処理して、ビームプロファイルの時間的なマウンテンビュー、プロファイルの重心の時間変化、

ビーム幅の時間変化の測定をする。又、同時にメインリングの水平方向２台のＮＤＰＭの組み合わせによりモーメンタムスプレット

の時間変化も測定する。